Главная | Публикации | Оценка надежности при одиночных сбоях в кэш-памяти в маршруте проектирования системы на кристалле

Оценка надежности при одиночных сбоях в кэш-памяти в маршруте проектирования системы на кристалле

Авторы

Мамутова О.В.
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 4. С. 166-171.

Краткое описание

На каждом этапе проектирования надежной системы на кристалле необходимо оценивать ее уязвимость к одиночным сбоям. В работе рассматривается задача такого анализа для кэш-памяти процессора. Сформулированы недостатки существующих подходов для платформенно-ориентированного проектирования. Предложен комплекс новых методов оценки, позволяющих существенно сократить время анализа: быстрая аналитическая оценка для ранних этапов проектирования и подход к эмуляции внесения неисправностей. Предложена методика интеграции этих методов в маршрут проектирования, проиллюстрированная примером разработки бортового вычислителя малого спутника.

Ключевые слова

Система на кристалле, платформа, кэш-память, надежность, одиночный сбой, информационный отказ, моделирование, внесение неисправностей

Мамутова О.В. Оценка надежности при одиночных сбоях в кэш-памяти в маршруте проектирования системы на кристалле // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 4. С. 166-171.